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原子力顯微鏡(探頭掃描式) WY- LS-AFM

原子力顯微鏡(探頭掃描式) WY- LS-AFM
◆性能特點:實現樣品保持不動,探針移動掃描的商業化原子力顯微鏡。樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大的樣品檢測。樣品臺可拓展性強,非常便于進行多儀器聯用實現原位檢測。電動控制樣品移動臺和升降臺,可任意編程多點位置實現快速自動化檢測。龍門架式掃描頭設計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物
服務熱線: 4001-123-022
  • ◆性能特點:
    實現樣品保持不動,探針移動掃描的商業化原子力顯微鏡。

    樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大的樣品檢測。

    樣品臺可拓展性強,非常便于進行多儀器聯用實現原位檢測。

    電動控制樣品移動臺和升降臺,可任意編程多點位置實現快速自動化檢測。

    龍門架式掃描頭設計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺。
    馬達自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。
    高倍輔助光學顯微定位,實時觀測與定位探針以及樣品掃描區域。

    集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%。

     

    ◆測量范圍及應用:

    測量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

    應用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。



    ◆ 應用案例 Application Case

    微信圖片_20220424160343.png




  • 序號

    名稱

    技術參數

    01

    工作模式

    接觸模式、輕敲模式

    02

    選配模式

    摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力

    03

    力譜曲線

    F-Z力曲線、RMS-Z曲線

    04

    XYZ掃描方式

    探針驅動式掃描,壓電陶瓷管掃描器

    05

    XY掃描范圍

    10100um

    06

    Z掃描范圍

    10um

    07

    掃描分辨率

    橫向0.2nm,縱向0.05nm

    08

    XY樣品臺

    步進電機驅動控制,移動精度1um

    09

    XY移動行程

    100×100mm(可選200×200mm300×300mm

    10

    樣品載物臺

    直徑100mm(可選200mm300mm

    11

    樣品重量

    15Kg

    12

    Z升降臺

    步進電機驅動控制,*小步長10nm

    13

    Z升降行程

    15mm(可選20mm25mm

    14

    光學定位

    10X光學物鏡

    15

    攝像頭

    500萬像素數字CMOS

    16

    掃描速率

    0.6Hz~30Hz

    17

    掃描角度

    0~360°

    18

    運行環境

    Windows XP/7/8/10操作系統

    19

    通信接口

    USB2.0/3.0

    20

    儀器結構

    龍門架式掃描頭,大理石底座

    21

    減震方式

    氣浮式減震臺+金屬屏蔽隔音箱(可選主動式減震臺)


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