金相顯微鏡的微分干涉（Differential Interference Contrast，簡稱DIC）觀察方式是一種**的觀察技術，它利用光的干涉原理來增強樣品表面的微小凹凸和裂紋的可見性，使影像呈現出立體感，從而改善觀察效果。以下是對微分干涉觀察方式的詳細介紹：

一、原理

微分干涉觀察方式利用偏光干涉原理。光源發出一束光線，經過聚光鏡后射入起偏鏡，形成一線偏振光。這束線偏振光再經過半透反射鏡射入渥拉斯登棱鏡（Wollaston Prism），產生一個具有微小夾角的尋常光（O光）和非常光（e光）的相交平面。這兩束光再通過物鏡射向樣品，反射后再經渥拉斯登棱鏡合成一束光。這束合成光通過半透反射鏡后，在檢偏鏡上O光與e光重合產生相干光束，*終在目鏡焦平面上形成干涉圖像。

二、優點

立體感強：微分干涉觀察方式可以使被檢物體產生三維立體感，觀察效果更直觀。

觀察效果好：通過調節背景和物體的顏色變化，可以達到理想的觀察效果。

無需特殊物鏡：微分干涉觀察方式可以與熒光觀察配合使用，無需特殊物鏡。

三、缺點

光強要求高：微分干涉觀察需要較高的光強才能獲得清晰的圖像。

雙折射物質限制：雙折射物質不能達到DIC鏡檢效果。

塑料容器限制：不能應用于塑料容器培養物的觀察。

調節復雜：微分干涉觀察的調節相對復雜，需要一定的經驗和技巧。

四、應用

微分干涉觀察方式在金相顯微鏡中廣泛應用于觀察樣品表面的微小凹凸和裂紋。例如，它可以清晰地觀察到晶界上析出的碳化物等精細結構。此外，微分干涉觀察方式還適用于觀察生物樣品、地質樣品等具有復雜結構的樣品。

五、操作注意事項

樣品準備：確保樣品表面平整、清潔，無污染物或雜質。

儀器校準：在進行微分干涉觀察前，需要對金相顯微鏡進行校準，以確保圖像的準確性和清晰度。

調節參數：根據樣品的特性和觀察需求，調節微分干涉觀察的參數，如光強、顏色等。

觀察技巧：在觀察過程中，需要掌握一定的觀察技巧，如調整焦距、旋轉樣品等，以獲得更好的觀察效果。

綜上所述，微分干涉觀察方式是金相顯微鏡中一種重要的觀察技術，它利用光的干涉原理來增強樣品表面的微小凹凸和裂紋的可見性，使影像呈現出立體感。雖然它具有一定的操作難度和限制條件，但在適當的條件下可以獲得高質量的圖像和觀察效果。