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FEI Talos F200X透射電子顯微鏡是一個真正的多功能、多用戶環境200kV現場發射透射電子顯微鏡。儀器配備了STEM、EDX、HAADF、CCD可收集等附件TEM明場、暗場和高分辨率圖像可以進行選區電子衍射和匯聚束衍射,EDX能譜分析和高分辨率STEM分析原子序數像,STEM結合EDX微區能譜分析可用于點、線、面掃描。該儀器還配備了相關的樣品設備,包括Gantan691離子減薄器、磁性雙噴電解減薄器、凹坑儀等,可對金屬、生物、聚合物材料等樣品進行制樣。
可以用它來做
形貌分析
樣品的形狀、粒徑、分散性等相關信息可以通過形狀分析獲得,樣品的質厚襯里像和衍襯像可以通過明場像和暗場像進一步表征。
結構分析
觀察和研究材料結構,并對納米尺度進行微分析,如:高分辨率晶格條紋圖像、選區電子衍射、聚束電子衍射等。
成分分析
可以分析小到幾納米的微區域或晶粒的成分,有選擇地對樣品進行能譜點測量、能譜線掃描和能譜面分布分析,以獲得樣品中元素在一個點、一條線和一個表面的分布。
電鏡完全數字化,直接由計算機控制。高分辨率分析系統完整、穩定、靈活。可靈活切換多用戶界面、控制板表面和各種功能模式。中科百測配備了儀器STEM,EDX,CCD,HAADF可收集多種附件TEM明場、暗場和高分辨率圖像可以進行選區電子衍射和匯聚束衍射,EDX能譜分析和高分辨率STEM分析原子序數像,STEM結合EDX微區能譜分析可用于點、線、面掃描。中科百測透射電子顯微鏡實驗室還配備了一套包括GATAN離子減薄儀,LEICA冰凍超薄切片機、磁性雙噴電解減薄器、凹坑儀等。,可用于生物、聚合物材料和金屬樣品的透射電子顯微鏡制樣。
儀器的使用范圍
廣泛應用于生物學、醫學、化學、物理學、地質學、金屬、半導體材料、聚合物材料、陶瓷、納米材料等領域。它是研究各種材料超顯微結構與性能關系不可或缺的工具。
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